第2个回答 2024-04-10
其实这主要体现在物镜和光源位置上的不同。正置显微镜的物镜是位于样品上方的,通过透射或反射光来观察样品,这种显微镜特别适合观察那些需要透过光的薄样品。而倒置显微镜则相反,物镜是在样品下方,通过反射光来观察样品,这种设计更适合观察那些不能透过光的厚样品,比如集成电路、金属表面等。据我所知,奥林巴斯正置显微镜在这方面就做得非常出色,比如BX53M型号,不仅保持了传统的对比方法,还融入了先进的显微镜技术,如微分干涉对比和图像分析软件,提供出色的图像质量和准确的检测结果,反馈蛮不错的。