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背散射电子与原子序数的关系
SEM
背散射电子
下,
原子
系数越大是越亮还是越暗,二次电子下是不是相反...
答:
背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的,
所以原子序数大的原子越大,弹性碰撞的概率越大,所以原子序数大的背散射电子强度的大
;二次电子是从样品表面发射的电子,跟原子序数没关系,跟样品的表面形态有关,因为撞击角度90度是二次电子基本么有,倾斜装机的二次电子产率就很高了,所以二次电子像是...
扫描电子显微镜(SEM)-
背散射电子
(BSE)
答:
关键在于,BSE的数量与试样
原子序数
密切相关。试样中元素的原子序数越大,
散射的
电子就越多,因此BSE信号能反映出样品元素分布的微妙变化。不仅如此,样品表面的微观形貌也对BSE产生显著影响,它如同一面多面镜,反映出成分和表面形态的双重衬托。
背散射电子
成像过程的魔法在于能量的选择。高能的BSE几乎不受...
背散射电子的
概述
答:
背散射电子发射系数 η =I B /I 0 随原子序数增大而增大
。 作用体积随入射束能量增加而增大,但发射系数变化不大。
电子
束作用物质产生的物理信号有哪些?常用于何种分析仪器?
答:
背散射电子:来自样品表面几百nm深度范围,其产额随
原子序数
增大而增多,可以用于形貌分析、成分分析(原子序数衬度)以及结构分析。二次电子:来自表层5—10nm深度范围,对样品表面的状态十分敏感,能有效地反映样品表面的形貌。吸收电子:与
背散射电子的
衬度互补,可以用于定性的微区成分分析。透射电子:微...
sem为什么有些地方亮
答:
1、形貌衬度是因为倾角不同而造成的明暗差异,纯物质单组份样品,其SEM图中倾斜度比较大的侧面就会比较亮。2、成分衬度是由
背散射电子
的数量
和原子序数的
关联引起,在同一平面上,原子序数越大,背散射电子越多,最终的图像就越亮。sem是扫描电子显微镜,是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种...
核磁共振
有
七种信号,都
是什么
信号?
答:
背散射电子
、二次电子、吸收电子、透射电子、特征x射线、俄歇电子。背散射电子的产生范围深,由于背散射电子的产额随
原子序数的
增加而增加,所以,利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,也可用来显示原子序数衬度,定性地进行成分分析。若在样品和地之间接入一个高灵敏度的电流表,就可以测得样品...
电子
束与固体试样相互作用产生的物理信号可用于表层分析的有哪些
答:
电子束与固体试样相互作用时,高能电子束打击在样品表面,产生直接反射的
背射电子
,打到样品内部会激发样品表面的二次电子,俄歇
电子和
存在元素的特征X射线。这些产生于样品表面深度不同的信息,都可以用来做样品的表层分析。可以参考图来理解上述的内容。
扫描电镜
背散射电子
图像怎么分析
答:
一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。
背散射电子
像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,
原子序数
越高。第二、看表面形貌,电子成像,亮的区域高,暗的区域低。非常薄的薄膜,背散射电子会造成假像。导电性差时,电子积聚也会造成假像。
X射线光谱分析的
电子
信号来源有哪些?
答:
1)
背散射电子
:能量高;来自样品表面几百nm深度范围;其产额随
原子序数
增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。2)二次电子:能量较低;来自表层5—10nm深度范围;对样品表面化状态十分敏感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与...
X射线荧光分析法的原理
是什么
?
答:
背散射电子
:入射电子被固体样品原子核反弹回来的一部分入射电子。来自样品表层几百纳米的深度范围,它的产额随着
原子序数的
增大而增大,因此既可以做成分分析,也可以做形貌分析,但分辨率较低,约50-200nm。二次电子:入射电子束将原子核外电子撞击,使其脱离轨道并离开样品表面。一般在表层5-10nm激发出来...
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