在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜,为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形,先用波长为550nm的平行光垂直照射,观察反射光形成的等候干涉条纹,在图中AB段共有6条暗纹,且B处恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度!(Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5)
解:上下表面反射都有相位突变p,计算光程差时不必考虑附加的半波长. 设膜厚为e , B处为暗纹,
2ne=( 2k+1 )l, (k=0,1,2,…)
A处为明纹,B处第6个暗纹对应上式k=5
=1.0×10-3 mm
这个是题目给的答案 但是我没看懂 那个k为什么等于5 不解
这个公式给出的是暗条纹的图,k=0,1,2,3,4,5总共6个明条纹。也就是A处是'0'级而B处是第'5'级。
但是你的公式给的有问题啊。l应该是λ/2,要不然相邻条纹之间的厚度差变成了一个波长,显然是不对的。
倒是我给你的计算有一个地方错了,应该是除以折射率而不是乘以它,而且应该是用半波长,当时有点犯迷糊。改正一下就是
(5+0.5)*550/2/1.5=1008.33 nm= 10^-3 mm
5是6个暗条纹之间的距离,0.5是暗条纹和明条纹中心的距离,550/2/1.5是玻璃中的半波长。
如果按照你给的公式算的话注意把l改成λ/2即可