透射电镜（TEM）样品制备，是一门精细且依赖于多种因素的科学。首先，让我们来探讨一下制备完成的TEM样品的基本形态与质量检验。
制备好的TEM样品，宛如一个微小的艺术品，它的关键在于样品的尺寸与厚度。以中材新材料所使用的FEI Talos F200X为例，样品制备要求样品直径通常为3毫米，看似普通，实则内藏乾坤。这是因为TEM样品台的设计，对样品的尺寸有着严格限制，直径3.05mm就是它的基本规格。
至于厚度，透射电镜样品必须允许电子束穿透，以提供足够的信息。厚度的选择取决于电子能量和样品的平均原子序数。通常，我们追求的是“薄区”，即样品中可以被电子束穿透的区域，对于大多数研究，这个厚度在100纳米以下。值得注意的是，样品并非均匀厚度，边缘区域较厚，中心的孔洞区域则逐渐变薄，寻找并分析这些薄区是透射电镜检测的关键。
对于粉末样品，如何达到这个3毫米的直径呢？这涉及到样品支撑方式。TEM样品分为自支撑和支撑网两种类型。自支撑样品就像一个完整的实体，而粉末样品则可能需要通过超声滴样、包埋+离子减薄或FIB（聚焦离子束）制备等方法，将粉末固定在直径为3毫米的微栅上。
检验样品质量时，TEM制备与传统的金相抛光不同。肉眼或光镜无法精确判断100纳米级别的厚度，因此，我们依赖于透射电镜的直观观察。将样品置于TEM下，结合样品的检测目标，判断薄区是否满足要求，这是最直接的评估手段。当然，这需要丰富的经验和专业知识。
制备出优秀的薄区，是透射电镜检测成功的关键一步。中材新材料研究院作为专业的透射电镜服务提供商，专注于样品制备的每一个细节，确保透射表征结果的精准可靠。我们的服务覆盖样品制备、测试和数据分析的全流程，无论你是科研人员还是学生，都可以通过关注我们的公众号“中材新材料研究院”获取更多专业知识和帮助。
在探索材料微观世界的道路上，我们期待与你一起进步，共同揭开透射电镜的魅力。如果你对TEM样品制备有任何疑问，欢迎随时与我们交流探讨。